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竞博电竞首页:PCB透过HAST进行离子迁移与CAF的加速试验

发布时间:2024-04-21 15:06:35 来源:竞博电竞官网首页 作者:竞博电竞体育赛事平台

  PCB为确保其长时间使用质量与可靠度,需进行SIR (Surface Insulation Resistance)表面绝缘电阻的试验,透过其试验方式找出PCB是否会发生MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象,离子迁移与是在加湿状态下(如:85℃/85%R.H.),施加恒定偏压(如:50V),离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生长),相对电极还原成原来的金属并析出树枝状金属的现象,常造成短路,离子迁移非常脆弱,在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失,MIG与CAF常用的规范:IPC-TM-650-2.6.14.、IPC-SF-G18、IPC-9691A、IPC-650-2.6.25、MIL-F-14256D、ISO 9455-17、JIS Z 3284、JIS Z 3197…等,但其试验时间常常一次就是1000h、2000h,对于产品的周期性来说缓不应急,而HAST是一种试验手法也是设备名称,HAST是提高环境应力(温度、湿度、压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定PCB压合、绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%R.H./1000h→110℃/85%R.H./264h),PCB的HAST试验主要参考规范为:JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。

  宏展科技自主研发的HAST完全拥有自主知识产权,性能指标完全能够对标国外品牌,可提供单层、双层两款机型,UHASTBHAST两大系列。解决了此设备长期依赖进口,且进口设备交期长(达6个月左右)、价格高等问题。高加速应力测试(HAST)结合了高温、高湿度、高压和时间,以测量元件的可靠性,无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速,在较短的时间内发现包装密封,材料和接头等缺陷。

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